Nicomp 380
納米粒徑分析儀采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理來(lái)獲得范圍在0.3 nm到10 μm的膠體體系的粒度分布。
DLS是通過(guò)一定波長(zhǎng)的聚焦激光束照射在懸浮于樣品溶液的粒子上面，從而產(chǎn)生很多的散射光波。這些光波會(huì)互相干涉從而影響散射強(qiáng)度，散射強(qiáng)度隨時(shí)間不斷波動(dòng)，二者之間形成一定的函數(shù)關(guān)系。粒子的擴(kuò)散現(xiàn)象（或布朗運(yùn)動(dòng)）導(dǎo)致光強(qiáng)不斷波動(dòng)。光強(qiáng)的變化可以通過(guò)探測(cè)器檢測(cè)得到。使用自相關(guān)器分析隨時(shí)間而變的光強(qiáng)波動(dòng)就可以得到粒度分布系數(shù)（Particle size distribution, PSD）。單一粒徑分布的自相關(guān)函數(shù)是一個(gè)指數(shù)衰減函數(shù)，由此可以很容易通過(guò)衰減時(shí)間計(jì)算得到粒子擴(kuò)散率。終，粒子的半徑可以很容易地通過(guò)斯托克斯（Stokes-Einstein）方程式計(jì)算得到。
大部分樣品一般都不均勻，往往會(huì)呈現(xiàn)多分散體系狀態(tài)，即測(cè)出來(lái)的粒徑正態(tài)分布范圍會(huì)比較大，直觀的呈現(xiàn)是粒徑分布峰比較寬。自相關(guān)函數(shù)是由多組指數(shù)衰減函數(shù)綜合組成，每一個(gè)指數(shù)衰減函數(shù)都會(huì)因指數(shù)衰減時(shí)間不同而存在差異，此時(shí)計(jì)算自相關(guān)函數(shù)就變得不再簡(jiǎn)單。
Nicomp 380納米粒徑分析儀巧妙運(yùn)用了去卷積算法來(lái)轉(zhuǎn)化原始數(shù)據(jù)，從而得出接近真實(shí)值的粒度分布。Nicomp 尤其適合測(cè)試粒度分布復(fù)雜的樣品體系，利用一組*的去卷積算法將簡(jiǎn)單的高斯正態(tài)分布模擬成高分辨率的多峰分布模式，這種去卷積分析方法，即得到PSS粒度儀公司*的粒徑分布表達(dá)方法-Nicomp分布（Nicomp Distribution）。
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